電阻測量設(shè)備選型指南-日本napson電阻測量儀器

Napson制造和銷售接觸式和非接觸式電阻測量設(shè)備。我們將介紹這兩種類型的電阻測量方法的優(yōu)缺點。（*由典型的四探針法和渦流法描述。其他一些測量方法有所不同。）

每種測量方法的優(yōu)缺點（接觸式和非接觸式）

接觸式和非接觸式電阻測量的特點

按測量原理：薄層電阻測量范圍（參考材料）

*脈沖電壓激勵方法：由千葉大學(xué)聯(lián)合開發(fā)（已獲得號5386394）
*電暈放電方法：由Yamagata大學(xué)聯(lián)合開發(fā)（已獲得5510629）
*以上測量范圍是它是文檔創(chuàng)建時的大概數(shù)字。由于技術(shù)進步，如有更改，恕不另行通知。

定制示例-電阻測量儀（非接觸，接觸）

憑借完整的產(chǎn)品陣容和定制支持，
可以*根據(jù)客戶的要求進行安裝。

在Napson，我們積累了豐富的專業(yè)知識，可根據(jù)許多安裝記錄來優(yōu)化客戶研究設(shè)施和質(zhì)量控制設(shè)施中使用的內(nèi)容，并擁有完整的產(chǎn)品陣容。我們也應(yīng)客戶的要求接受定制。請先與我們聯(lián)系。我們將提供醉適合您要求的設(shè)備。

定制案例

納普森的優(yōu)勢

1個
靈活的設(shè)備定制，以滿足客戶需求
“我想將此功能添加到此設(shè)備”，“我想從標準規(guī)格中更改測量范圍”等。如果您想自定義產(chǎn)品，請首先讓我們知道您的要求。我們會根據(jù)測量方法和被測物體的用途來響應(yīng)功能的增加。
2
所有設(shè)備均為日本制造，具有響應(yīng)能力，因為它是國內(nèi)制造商
我們在日本（千葉縣）的自己的工廠中進行從設(shè)備開發(fā)到設(shè)計（包括軟件）和制造的所有工作，并實現(xiàn)高品質(zhì)和高可靠性測量設(shè)備的開發(fā)和制造。
（*設(shè)備中的某些加工產(chǎn)品已外包給外部合作伙伴公司）
3
完善的權(quán)球支持系統(tǒng)
除了我們在日本的支持系統(tǒng)外，我們還與來自亞洲（韓國，中國，中國臺灣，新加坡），歐洲（法國，德國，英國）和美國（美國馬薩諸塞州）的權(quán)球合作伙伴建立了完善的權(quán)球支持系統(tǒng)。我們正在建造。
四個
在日本和海外，硅晶片和FPD行業(yè)的份額超過80％*。
我們贏得了與硅相關(guān)，液晶，太陽能電池和LED等各個行業(yè)的客戶的深刻信任，并且我們在日本硅晶片行業(yè)的銷售份額超過80％* [4探針法測量儀器]，包括液晶在內(nèi)的權(quán)球平板工業(yè)（薄膜測量）的銷售份額在權(quán)球超過80％* （*截至2014年）。
五
在日本（千葉縣）的工廠進行示范/樣品測量和設(shè)備參觀的信息
各種演示設(shè)備詠玖安裝在我們的千葉技術(shù)中心（*某些目錄標準規(guī)格）。您可以在交付之前和檢查階段檢查對象的測量數(shù)據(jù)和規(guī)格的詳細信息。“客戶物體的實際測量結(jié)果是什么？”，“設(shè)備的實際使用感覺和安裝尺寸是什么？” 請隨時與我們聯(lián)系。

設(shè)備陣容

設(shè)備選擇與開發(fā)，測量方法建議，設(shè)備定制

您可以從2種測量方法（接觸/非接觸）和5種類型的設(shè)備（全自動，半自動，手動，手持，在線）中選擇合適的設(shè)備。除了電阻測量之外，我們還有一系列PN判斷，平坦度，壽命，TCR（溫度控制機制）和擴展電阻測量系統(tǒng)。

*此目錄中列出的設(shè)備僅為示例。我們在制造全訂單/定制設(shè)備方面也取得了許多成就。

設(shè)備陣容

提案流程和測量裝置選擇方法介紹

在這里，我們將在收到查詢后介紹從產(chǎn)品選擇到介紹的流程。Napson的電阻測量裝置不僅適用于半導(dǎo)體，太陽能電池，平板（液晶面板等），而且還充分利用了自公司成立以來所積累的電阻測量知識和相關(guān)測量技術(shù)。它還用于分析和質(zhì)量控制新材料（例如石墨烯，例如LED材料和化合物半導(dǎo)體）的質(zhì)量。