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技術文章

對硅片能量轉(zhuǎn)換效率相關要素進行綜合性測量

日本psts太陽電池用硅片有效載流子測量裝置"VWECER-100-S"

 與傳統(tǒng)類型的常規(guī)產(chǎn)品不同,該產(chǎn)品具有
小型化的臺式機尺寸,可以一次測量晶圓。

 太陽電池用硅片有效載流子測量裝置"VWECER-100-S"使用東北大學金屬材料研究所開發(fā)的新技術“HS-CMR法”,測量硅片的質(zhì)量。由于可以在硅片階段就能準確判定質(zhì)量、進行識別,就可以避免將質(zhì)量低的硅片投入到電池生產(chǎn)線中。由此,就減少了電池生產(chǎn)工序的浪費,使成品率的提高成為可能。

 VWECER-100-S可以對硅片中與能量轉(zhuǎn)換效率相關的所有要素(電子、空穴、缺陷、雜質(zhì)等)進行綜合性測量,能用1個參數(shù)準確測量影響發(fā)電的有效載流子數(shù)。VWECER-100-S的測量結(jié)果直接關系到將硅片制造成太陽電池時的轉(zhuǎn)換效率。可以把由目視無法確認的硅片太陽電池的性能作為“潛在轉(zhuǎn)換效率”測量。由于可以進行識別,不將潛在轉(zhuǎn)換效率低的硅片用在電池生產(chǎn)線上,可以大幅度減少生產(chǎn)成本。另外,通過明確了以前無法準確測量的硅片內(nèi)有效載流子數(shù),也對太陽電池中重要的技術之一的“PN結(jié)技術”的改善有所幫助。

 

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