日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹

日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹

紅外光譜廣泛用于化學(xué)成分的定性/定量分析。
Kurabo Industries 的薄膜厚度計是一種帶有所謂“化學(xué)眼"的測量儀器，它針對您想要使用這種紅外技術(shù)測量的層和組件。

我們提供使用 T 型模具進行厚度控制所需的
高精度厚度信息。

不僅可以測量鋰離子電池的隔膜基膜，還可以分別測量各層的各種耐熱涂層的厚度。

測量規(guī)格
光度法	紅外線吸收法
光譜法	旋轉(zhuǎn)過濾方式（可安裝6張）
測量距離	20mm（兩個傳感器頭之間：40mm）
測量區(qū)域	20 x 30 mm（橢圓形）RX-4000：2 個點，RX-4100：1 個點
機身規(guī)格
傳感頭	RX-4100 外形尺寸：泛光傳感器410（W）x 164（D）x 190（H）（不包括突起）受光傳感器410（W）x 164（D）x 160（H）（不包括突起）
傳感頭	RX-4100 重量：泛光燈傳感器10.4kg，光接收傳感器8.6kg
繼電器單元	外形尺寸：322（W）x 140（D）x 113（H）（不包括突出部分）
	重量：4公斤
	電源：AC100V±10% 50 / 60Hz 200VA
外部輸出	RS422A (9600BPS) 數(shù)字輸出至上位機
工作溫度	5-40°C（無冷凝，35°C以上環(huán)境需要空氣吹掃）