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技術(shù)文章

表面附著異物可視化技術(shù)分析

表面附著異物可視化技術(shù)分析

粒子可視化技術(shù)可用于以高靈敏度檢測(cè)光滑表面上的粒子。此外,通過(guò)可視化顆粒成分的熒光,可以每天管理表面污染物和污漬。

使用散射光的方法

高靈敏度微??梢暬夹g(shù)是一種捕捉運(yùn)動(dòng)微粒散射光的技術(shù)。同樣的原理可用于高靈敏度檢測(cè)表面異物和移動(dòng)產(chǎn)品的微弱散射光。激光只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品,但例如,即使在薄膜中也可以通過(guò)可視化檢測(cè)施加張力的位置。

散射光用于檢測(cè)附著在產(chǎn)品表面的顆粒。
使用散射光檢測(cè)表面污染物

熒光結(jié)合使用

附著在表面的異物或污垢可能會(huì)返回來(lái)自其成分的熒光。為了使熒光顏色清晰,需要對(duì)照射光進(jìn)行設(shè)計(jì),但如果用特殊濾光片切斷散射光,表面異物會(huì)很鮮艷,很容易看清。使用這種方法,只要光線到達(dá)表面,無(wú)論表面的光滑度如何,都可以進(jìn)行可視化。“D Light"可以免費(fèi)租借(約2天)。請(qǐng)借此機(jī)會(huì)嘗試一下。

污染熒光可通過(guò)熒光顏色檢測(cè)
使用熒光識(shí)別異物和污垢

利用表面粒子可視化技術(shù)的最佳解決方案

  • “D Light",一種可以更容易地看到表面異物和污漬的熒光色的工具

  • “D Scope",即使是微弱的熒光也能捕捉到,分析微粒子的各種信息并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)的工具

  • 一種相對(duì)容易設(shè)置在您想要可視化的表面上的光源是“Parallel Eye F" 。

  • “Parallel Eye H"是可視化寬大光滑產(chǎn)品表面的最佳光源。

  • “Parallel Eye D"是可視化不平整表面和突出熒光的最佳光源。

  • 具有粒子檢測(cè)專用靈敏度和功能的超高感度相機(jī)是專用超高感度相機(jī)“Iscope" 。

  • 用于在 PC 上進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像處理和記錄的圖像處理包“ParticleEye"



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