日本densoku電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231

日本densoku電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231

電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231

操作が簡(jiǎn)単で短時(shí)間（0.7秒）
絶縁物上の金屬皮膜を高精度に測(cè)定

?絶縁物上の金屬皮膜を0.7秒で測(cè)定 
?パソコン使用で見(jiàn)やすい畫(huà)面 
?較正や測(cè)定が簡(jiǎn)単 
?ヒストグラム、プロファイルなどすぐに閲覧可能 
?異常値検知機(jī)能

電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231 の特長(zhǎng)

絶縁物上の金屬皮膜を0.7秒で測(cè)定

絶縁物上の金屬皮膜（プリント基板の銅箔?めっきなど）を短時(shí)間（0.7秒）に高精度で測(cè)定します。

見(jiàn)やすい畫(huà)面構(gòu)成

パソコン使用で畫(huà)面が大きく、明るく、見(jiàn)やすい畫(huà)面構(gòu)成です。

較正や測(cè)定が簡(jiǎn)単

較正や測(cè)定が簡(jiǎn)単。2種類(lèi)の測(cè)定レンジが選択できます（2～24μm、10～120μm）。

各種図がすぐに見(jiàn)られる

統(tǒng)計(jì)処理後、ヒストグラム、プロファイル、x-R管理図がいつでもすぐに見(jiàn)られます。

異常値検知機(jī)能

膜厚の上下限を設(shè)定しておくと異常値に対して通知します。

探針1本ごとに交換に対応

プローブの探針を破損した場(chǎng)合、探針1本ごとに交換でき低価格での修理が可能です。

統(tǒng)計(jì)処理が容易

測(cè)定データをチャンネルごとに保存でき、測(cè)定データに対し後から統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目を設(shè)定し統(tǒng)計(jì)処理を行なうことができます。

40チャンネルまで登録可能

40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や部品番號(hào)などにより別々の登録をしてチャンネルの管理ができます。

探針1本ごとに交換に対応

4探針プローブ（ケルビン式）を採(cǎi)用しており、両面基盤(pán)や多層基盤(pán)も裏面や內(nèi)部層の影響を受けず高精度の測(cè)定ができます。

ヒストグラム

x-R管理図

統(tǒng)計(jì)量表示

測(cè)定原理

プローブには直線上に4本の金屬ピン（探針）立っています。 この4本の探針を測(cè)定する絶縁物上の金屬箔や金屬めっき面に接觸させます。外側(cè)の2本探針に一定の電流（I）を流し、電圧（V）を測(cè)定します。探針を接觸させている金屬箔や金屬めっきの厚さ（T）は、一定の條件下では下記の式で計(jì)算できます。 T　=　K　×　I　÷　V ここではKは定數(shù) 従って、內(nèi)側(cè)の2本の探針間の電圧を測(cè)定すれば、金屬箔や金屬めっきの厚さを測(cè)定できます。

電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231 の仕様?4探針プローブ仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。